Lista przedmiotów z materiałami udostępnionymi dla studentów
- Medical Imaging, prof. dr hab. M. Strzelecki
- Law and Ethics in Bio-Medical Engineering, George R. Brown
- Final Project Seminar, prof. dr hab. M. Strzelecki
Kamil JeziornyStanowisko do pomiaru emisyjności materiałówSetup for the materials emissivity measurementsOpiekun pracy dyplomowej: dr inż. Marcin Kałuża Praca dyplomowa inżynierska obroniona 2014-10-09 |
Streszczenie pracy dyplomowej: |
Celem niniejszej pracy dyplomowej było zbudowanie stanowiska laboratoryjnego do pomiaru wartości emisyjności materiałów metodą porównawczą. Pomiar taki polega na przygotowaniu próbki badanego materiału poprzez pokrycie części jego powierzchni warstwą o dużej, znanej emisyjności, podgrzanie do określonej, znanej temperatury, a następnie pomiar temperatury powierzchni niepokrytej powłoką, zmieniając równocześnie wartość emisyjności ustawioną w kamerze termowizyjnej tak długo, aż uzyska się taką samą wartość temperatury, jaką uprzednio zmierzono dla fragmentu pokrytego powłoką. Praca została podzielona na dwie części. W części pierwszej opisano podstawy teoretyczne dotyczące promieniowania termicznego, termowizji i kamer termowizyjnych. W części drugiej, praktycznej, opisano budowę stanowiska i przedstawiono uzyskane za jego pomocą wyniki pomiarów wartości emisyjności wybranych próbek materiałów. |
Abstract: |
The aim of this thesis was to build a laboratory setup for materials emissivity measurements using comparative method. This measurement consist in material sample preparation by covering a part of its surface by a coating layer of known, large emissivity, heating it to a known temperature, and then measuring the surface temperature of the uncoated surface, while changing the value of the emissivity set in the IR camera, until obtaining the same temperature, as the one previously measured for the coated part of the specimen. The work was divided into two parts. The first part describes the theoretical basis of thermal radiation, thermal imaging and infrared cameras. The second part, practical, was devoted to the description of the measurement setup. It also presents the emissivity measurements results obtained for same samples of materials. |