Lista przedmiotów z materiałami udostępnionymi dla studentów

Dla_studentów
  • Increase font size
  • Default font size
  • Decrease font size

Aleksandra Tarnawska

Analiza wpływu konfiguracji dyfraktometru XRD na uzyskane wyniki analizy nanokrystalicznego tlenku tytanu


The analysis of the influence of configuration of XRD diffractometer on the obtained results of analysis of nanocrystalline titanium dioxide


Opiekun pracy dyplomowej: dr hab. inż. Damian Batory
Praca dyplomowa inżynierska obroniona 2020-10-05
Streszczenie pracy dyplomowej:
Koncepcją pracy było przeprowadzenie szeregu badań dyfrakcji rentgenowskiej na nanokrystalicznym tlenku tytanu, przy zmiennej konfiguracji dyfraktometru proszkowego, tak aby ocenić wpływ tej konfiguracji na uzyskaną dokładność otrzymanych wyników badań. Podczas badania zostały przeprowadzone pomiary dla zmiennych wielkości szczelin dywergencyjnych, dwóch szczelin Sollera oraz dla dwóch zmiennych nastawów pracy detektora promieniowania rentgenowskiego. Dokonane analizy wyników badań wykazały, że zwiększenie czasu badania powoduje wzrost stosunku intensywności piku do tła oraz poszerzenie szerokości połówkowej piku. Zwiększenie zarówno szerokości szczeliny Sollera jak i dywergencyjnej powoduje spadek wartości stosunku intensywności piku do tła i wzrost szerokości połówkowej piku. Słowa kluczowe: dyfrakcja promieni rentgena, tlenek tytanu, nanomateriały
Abstract:
The concept of the thesis was to conduct a series of X-ray diffraction tests on nanocrystalline titanium dioxide, with a variable configuration of the powder diffractometer, in order to assess the influence of this configuration on the obtained accuracy of the obtained test results. During testing, measurements were carried out for variable sizes of divergence slits, two Soller slits and for two variable settings of the X-ray detector operation. The analysis of the test results showed that when the test time increases the ratio of the peak intensity to the background also increases and widening of the full-width-at-half- maximum of the peak occurs. Increasing both the Soller slit width and the divergent slit width decrease the peak intensity to the background ratio and increase the full-width-at-half- maximum of the peak . Keywords: X-ray diffraction, titanium dioxide, nanomaterials